检测原理

采用导纳圆图法测量低机械品质因数压电陶瓷材料厚度摸振子的性能参数。
低品质因数的压电陶瓷振子在谐振频率附近的等效电路示于图1,总导纳γ随频率的变化轨迹表示于图2。

图1 单模有损耗压电振子的等效电路

图2 导纳图
导纳特性
压电振子的总导纳γ可用下式表示:

式中:
γ——总导纳,S;
γ0——总静态导纳,S;
γd——总动态导纳,S;
G ——总电导,S;
B——总电纳,S;
G0——漏导(电损耗等效电导),S;
Gd——动态电导,S;
B0——静态电纳,S;
Bd——动态电纳,S;
ω——角频率,rad/s;
C0——并联电容,F
tgδe——介电损耗角正切
R1——动态电阻,Ω
L1——动态电感,H
C1——动态电容,F
检测条件

测试设备:DMS1000高温介电阻抗温谱仪
检测参数:Qm、fs、kt、VtD、C33D、e33、Nt
温度区间:RT~1000℃
频率范围:100Hz~30MHz
温度偏差:±1℃
升降温速率:1℃/min~10℃/min
样品尺寸

推荐样品尺寸:φ20*2mm
测试电场:E≤1V/mm
试样为薄圆片,两主平面平行度不大于厚度公差的二分之一,在两主平面上全部被覆金属层作为电极,沿厚度方向进行进行极化。(佰力博科技含有被电极服务)
检测标准

1、GB/T 11320-1989《压电陶瓷材料性能测试方法 低机械品质因数压电陶瓷材料性能的测试》
检测结果

数据结果将以图形和TXT文本形式呈现