做微波介质材料的朋友都知道,介电常数和介电损耗是材料能否用在谐振器、滤波器、天线等器件上的关键指标。可怎么才能测得准、测得快?今天这篇,带你认识一种精度最高的测试方法——TE01δ 模式金属谐振腔法。
做微波介质材料的朋友都知道,介电常数和介电损耗是材料能否用在谐振器、滤波器、天线等器件上的关键指标。可怎么才能测得准、测得快?今天这篇,带你认识一种精度最高的测试方法——TE01δ 模式金属谐振腔法。
为什么说"闭腔法"精度高?
TE01δ 模式金属谐振腔法(也叫闭腔法),是低损耗材料微波介电性能测试方法中精度最高的一种。
它的原理并不复杂:通过测量圆柱形介质谐振器 TE01δ 模式的谐振频率 f₀ 和无载品质因数 Q₀,再借助配备的、基于精确电磁场有限单元分析的测试软件,就能计算出被测样品的介电常数 εr 和介电损耗 tanδ(或 Qf 值)。
针对同类产品在模式识别、测试可靠性、测试频率范围等方面的常见短板,这套 E5071C+闭腔法方案做了优化升级,具备模式识别准确、测试精度高、测试频率范围宽、操作简单等优点。

它能测什么?
① 测试频率
2-19GHz,具体取决于被测试样的直径、厚度和介电常数。
② 测试参数
介电常数 ε、介电损耗 tanδ(或 Qf 值,即 tanδ 的倒数 Q 与频率 f 的乘积)。
③ 测试范围
ε ≥ 1.5,tanδ ≤ 10⁻²。
送样有什么要求?
圆柱形试样,关键尺寸如下:
直径 D:6-15mm
厚度 H:3-7mm
最佳尺寸:D ≈ 10mm、H ≈ 5mm
尺寸偏差 ≤ 0.2%
⚠️ 其他尺寸的试样需定跟我们技术提前沟通。
结果怎么反馈?
测试后手动记录特征频率、品质因子、损耗等参数,供您分析使用。
常规周期:5个工作日内出结果。